Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Robert Edward Lee
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 著者標目 | Lee, Robert Edward |
| 出版者 | Englewood Cliffs, N.J. : PTR Prentice Hall |
| 出版年 | c1993 |
| 大きさ | xiii, 458 p. : ill. ; 25 cm |
| ISBN | 9780138137595 |
| 一般注記 | Includes bibliographical references (p. 439-441) and index |
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| 巻 次 | 配架場所 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | 資料種別 | コメント | 利用注記 | 請求メモ | 予約 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| hbk | 3階-書庫 | 433 | 03300105454 | 図書 |
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| 件 名 | LCSH:Scanning electron microscopy LCSH:X-ray microanalysis MESH:Electron Probe Microanalysis MESH:Microscopy, Electron, Scanning |
|---|---|
| 分 類 | LCC:QH212.S3 NLM:QH 212.S3 L479s DC20:502/.8/25 |
| 書誌ID | BK00071897 |
| NCID | BA20876377 |
| 本文言語 | 英語 |
目次／あらすじ